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電流面內隧穿測試儀橢偏儀紅外光譜臺階儀摩擦磨損試驗機光學輪廓儀納米壓痕儀原子力顯微鏡查看全部產品

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100 具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統(tǒng)占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉（WLI）創(chuàng)新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力

更新日期：2024-04-18訪問量：2384廠商性質：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針

SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規(guī)范材料:氮化硅幾何:三角懸臂梁數(shù)量4 懸臂厚度(Nom): 0.6pm 懸臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0.65pm 背面涂層:反光金表層背面：45±5 nm的Ti/Au

更新日期：2024-04-18訪問量：2790廠商性質：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
SCANASYST-AIR bruker afm探針氮化硅針尖

SCANASYST-AIR bruker afm探針氮化硅針尖 ScanAsyst®利用一種的曲線采集方法和復雜的算法，對圖像質量進行持續(xù)的監(jiān)測，并能自動地對參數(shù)進行適當?shù)恼{整。因此： - 無論用戶的專業(yè)技術水平如何，圖像自動優(yōu)化都能更快獲取更*的結果。

更新日期：2024-04-19訪問量：1703廠商性質：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針

NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針一組硅探針。數(shù)量為10 用于TappingMode成像的Bruker's Value Li ne蝕刻硅探針TM在空氣中的非接觸模式，具有反射涂層。這種探頭也可以不使用鋁反射涂層作為模型NCHVO

更新日期：2024-04-19訪問量：1787廠商性質：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3

bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。

更新日期：2024-04-19訪問量：2270廠商性質：經(jīng)銷商
現(xiàn)在聯(lián)系

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